Олимпийский Контроль

Введение В современном производстве и научных исследованиях точное измерение толщины тонких пленок и покрытий имеет ключевое значение. От этого зависит качество продукции, функциональные характеристики материалов и долговечность устройств.

Введение в оптическую поляризационную микроскопию Оптическая поляризационная микроскопия (ОПМ) – это метод визуализации и анализа напряжений в прозрачных материалах посредством изучения изменений поляризации света, прошедшего через образец. За

Введение в проблему дефектов в металлических отливках Металлические отливки являются важной частью многих промышленных изделий — от авиационных компонентов до деталей машиностроения. Качество отливок напрямую влияет на надежность

Введение Современное строительство сталкивается с необходимостью обеспечения высокой надежности и долговечности зданий и сооружений. Одним из ключевых факторов, влияющих на долговечность, является появление микротрещин в строительных материалах на

Введение в электрохимическую сканирующую микроскопию Коррозия металлов и сплавов – это одна из главных проблем в промышленности, вызывающая значительные экономические потери. Эффективное изучение процессов коррозии требует методов, способных

Введение в проблему контроля трубопроводов Трубопроводы – важнейшая часть инфраструктуры в нефтегазовой, химической и энергетической отраслях. Их безопасность напрямую зависит от состояния стенок, которые со временем могут корродировать

Введение в ультразвуковую спектроскопию анизотропных композитов Компоненты современных конструкционных систем часто изготавливаются из композитных материалов с анизотропными свойствами — то есть с упругими характеристиками, зависящими от направления нагрузки.

Введение в терагерцовую спектроскопию Терагерцовая (THz) спектроскопия — это метод исследования материалов, основанный на использовании электромагнитного излучения в диапазоне частот от 0,1 до 10 ТГц. Этот участок спектра

Введение Современное строительство требует надежных методов контроля и диагностики бетонных конструкций. Повышенное внимание уделяется неразрушающим методам, позволяющим выявлять дефекты без повреждения объекта. Одним из самых перспективных технологий в

Введение в сканирующую ближнепольную оптическую микроскопию (СБОМ) Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ, или SNOM — Scanning Near-field Optical Microscopy) – это метод оптической микроскопии, позволяющий преодолеть дифракционный предел