Олимпийский Контроль

Введение в проблему деградации материалов Деградация материалов — стабильное снижение их эксплуатационных свойств под воздействием физических, химических и механических факторов — является одной из главных причин сокращения срока

Введение в концепцию магнитной памяти металла Современное техническое обслуживание и мониторинг стальных конструкций требуют максимально точных и, одновременно, минимально затратных методов диагностики. Одним из перспективных направлений является метод

Введение в фрактальный анализ поверхностных дефектов Современные материалы часто подвергаются сложным нагрузкам и агрессивным средам, из-за чего на их поверхности возникают дефекты различной природы. Поверхностные дефекты, такие как

Введение в роботизированные системы контроля качества Современное производство все чаще сталкивается с необходимостью повышения точности и скорости контроля качества продукции. Традиционные методы инспекции уже не соответствуют требованиям массового

Введение в проблему остаточных напряжений в сварных соединениях Сварные соединения являются важной частью конструкций в машиностроении, строительстве и других промышленных отраслях. Однако процессы сварки приводят к образованию остаточных

Введение в электронную конфокальную микроскопию Современное развитие нанотехнологий и материаловедения требует всё более точных методов визуализации наноструктур. Электронная конфокальная микроскопия (ЭКМ) — это инновационная методика, совмещающая преимущества конфокального

Введение в электрохимическую кварцевую микрогравиметрию Электрохимическая кварцевая микрогравиметрия (ЭКМГ) — это уникальный метод, сочетающий свойства квантового генератора на основе кварцевого кристалла с возможностью проведения электрохимических измерений. Используя малейшие

Введение в лазерную резонансную ионизационную масс-спектрометрию Современная аналитическая химия требует методов, способных выявлять и количественно определять элементы в чрезвычайно низких концентрациях — иногда на уровне нескольких атомов или

Введение в рентгеновскую фотоэлектронную спектроскопию (XPS) Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS) — одна из наиболее эффективных и широко используемых поверхностных аналитических техник в материаловедении, химии и физике. Метод позволяет

Введение в лазерную когерентную томографическую микроскопию Лазерная когерентная томографическая микроскопия (ЛКТМ) – это прогрессивный оптический метод, основанный на когерентной интерференции лазерного излучения, предназначенный для получения трехмерных (3D) изображений