Ультразвуковая микроскопия: детальный анализ микроструктуры материалов
Введение в ультразвуковую микроскопию Ультразвуковая микроскопия (УЗМ) — это современный метод визуализации и анализа микроструктуры материалов с использованием высокочастотных ультразвуковых волн. Благодаря возможности проникновения звуковых волн в материал,
Наноиндентирование для изучения механики тонких покрытий менее 1 микрометра
Введение Современная индустрия материаловедения активно развивается за счёт создания тонких функциональных покрытий с уникальными свойствами. Толщина таких покрытий зачастую находится в диапазоне от нескольких нанометров до микрометра и
Цифровая рентгенография и компьютерная томография: инновационный объемный анализ внутренних дефектов
Введение в цифровую рентгенографию и компьютерную томографию Современная промышленность, медицина и научные исследования требуют точной и высокой детализации при диагностике и контроле качества различных изделий и материалов. В
Машинное обучение и большие данные: новые горизонты в изучении деградации материалов
Введение в проблему деградации материалов Деградация материалов — процесс постепенного ухудшения их свойств под воздействием внешних факторов, таких как коррозия, усталость, температура, влажность и механические нагрузки. Это явление
Квантовая криптография для надежной защиты данных независимой экспертизы
Введение в проблему безопасности данных независимой экспертизы Независимая экспертиза играет ключевую роль в самых разных сферах — от судебных разбирательств и научных исследований до строительных и финансовых проверок.
Микроволновая дефектоскопия композитных материалов с метаматериальными антенными решетками
Введение в микроволновую дефектоскопию композитных материалов Композитные материалы все шире применяются в авиации, автомобилестроении, строительстве и других инженерных областях благодаря своей высокой прочности при небольшой массе. Однако контроль
Оптическая эллипсометрия: измерение оптических констант и толщины многослойных структур
Введение в оптическую эллипсометрию Оптическая эллипсометрия — это бесконтактный и высокоточный метод анализа тонких плёнок и многослойных структур на основе измерения изменения поляризации света после отражения или прохождения
Магнитно-резонансная релаксометрия: исследование молекулярной динамики в полимерах
Введение в магнитно-резонансную релаксометрию Магнитно-резонансная релаксометрия (МРР) — это метод, основанный на измерении времени релаксации ядерных спинов в магнитном поле. В современной химии и материаловедении МРР становится важным
Магнитно-оптическая керровская микроскопия: визуализация магнитных доменов в реальном времени
Введение в магнитно-оптическую керровскую микроскопию Магнитно-оптическая керровская микроскопия (МОКМ) – это современный оптический метод, позволяющий визуализировать магнитные домены с высоким пространственным разрешением и в реальном времени. Основанный на
Оптическая твизерная спектроскопия для исследования механических свойств молекул и наночастиц
Введение в оптическую твизерную спектроскопию Оптическая твизерная спектроскопия — современный инструмент, позволяющий изучать механические свойства отдельных молекул и наночастиц с высокой точностью и контролем. Этот метод базируется на